Schirmeisen, André
Rasterkraftmikroskopie, Nanotribologie und Ionenleitung
Unsere Forschung ist fokussiert auf die Entwicklung und Anwendung von Rastersondenmethoden für die Analyse von nanoskaligen Materialien. Untersuchte Materialklassen sind zum einen organische Moleküle auf Oberflächen, mit Fokus auf die chemischen Reaktionspfade in 2D, des weiteren tribologisch aktive Oberflächen, sowie Grenzflächen für die Energiespeicherung. Unsere Methoden umfassen die Sondenanalyse und –modifikation, Feldionenmikroskopie (FIM), molekulare Manipulationsstrategien mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Tip-enhanced Raman scattering (TERS) und Flüssigkeitszellen AFM. Zudem entwickeln wir Pulsrohrkleinkühler, die zur Kühlung von wissenschaftlichen Instrumenten im sub-4K Bereich eingesetzt werden.
Kontakt
Prof. Dr. André Schirmeisen
Institut für Angewandte Physik
Tel.: +49-641-99-33411
Fax: +49-641-99-33409
Physik-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 137
Anwendungen/Funktionen:
- Materialien für Raumfahrt
- Oberflächentechnologien
- Organische Elektronik
Methoden:
- Elektrochemische Messungen
- Oberflächenanalytik
- Rastersondenmethoden
Materialklassen:
- Dünnschichten
- Festelektrolyte/gemischte Leiter
- Kohlenstoff-Materialien
- Molekulare Materialien
- Nanomaterialien
- Organische Materialien / Polymere