Januar 2013Seit einigen Monaten sind am Physikalisch-Chemischen Institut Transfersysteme für die ToF–SIMS- (Flugzeit–Sekundärionenmassenspektrometrie, obere Bildhälfte) und die ESCA-Apparatur (Photoelektronenspektroskopie, untere Bildhälfte) im Einsatz, die den Transport von Proben aus einer Glove Box zum jeweiligen Analysegerät unter Schutzgasatmosphäre (Argon) ermöglichen. Solch ein Transfersystem ist für die unverfälschte Analyse der Oberfläche von reaktiven Materialien wie Lithium oder Natrium notwendig, die als Anodenmaterialien in Sekundärbatterien verwendet werden. Weiterhin wird es für die Untersuchung von Proben mit möglichst sauberen Oberflächen benötigt wie z. B. bei der UPS–Untersuchung (Ultraviolettphotoelektronenspektroskopie) von Metalloxid–Halbleitern. (Bild eingereicht von Hauke Metelmann)https://www.uni-giessen.de/de/fbz/fb08/Inst/physchem/janek/gallerypom/GdB2013/BdM0113/viewhttps://www.uni-giessen.de/@@site-logo/logo.png
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Januar 2013
Seit einigen Monaten sind am Physikalisch-Chemischen Institut Transfersysteme für die ToF–SIMS- (Flugzeit–Sekundärionenmassenspektrometrie, obere Bildhälfte) und die ESCA-Apparatur (Photoelektronenspektroskopie, untere Bildhälfte) im Einsatz, die den Transport von Proben aus einer Glove Box zum jeweiligen Analysegerät unter Schutzgasatmosphäre (Argon) ermöglichen. Solch ein Transfersystem ist für die unverfälschte Analyse der Oberfläche von reaktiven Materialien wie Lithium oder Natrium notwendig, die als Anodenmaterialien in Sekundärbatterien verwendet werden. Weiterhin wird es für die Untersuchung von Proben mit möglichst sauberen Oberflächen benötigt wie z. B. bei der UPS–Untersuchung (Ultraviolettphotoelektronenspektroskopie) von Metalloxid–Halbleitern. (Bild eingereicht von Hauke Metelmann)
