„Giersch Excellence Award“ für Pascal Scholz
Gießener Doktorand für seine Arbeiten zum hochpräzisen Nachweis von Röntgenstrahlung von der Stiftung Giersch ausgezeichnet
Nr. 206 • 8. November 2018 
Diese Detektoren arbeiten bei sehr tiefen Temperaturen von nur 0,03 Grad über dem absoluten Nullpunkt bei -273,15 Grad Celsius. Sie können die Energie der Röntgenstrahlung zehnmal genauer messen als herkömmliche Halbleiterdetektoren. Um diese tiefen Temperaturen zu erreichen, wird flüssiges Helium in einem geschlossenen Kühlkreislauf als Kühlmittel eingesetzt. In seiner Doktorarbeit beschäftigt sich Scholz mit der Entwicklung eines neuartigen kompakten Detektordesigns, das unter anderem auf eine modulare Erweiterbarkeit der aktiven Fläche und damit auf eine Erhöhung der Detektor-Sensitivität abzielt. Dieses Detektordesign wurde vor kurzem einem Testexperiment am Schwerionenspeicherring ESR des GSI Helmholtzzentrums für Schwerionenforschung in Darmstadt unterzogen, und es konnte die Tauglichkeit des neuen Konzepts für die Experimentierumgebung an einem Großbeschleuniger demonstriert werden.
Im vergangenen Jahr gelang es Scholz, durch nachfolgende Optimierungen und unter Einbeziehung der Erkenntnisse des Testexperiments ein Mikrokalorimeter-Detektorarray herzustellen, das ein Auflösungsvermögen von nur 84 eV bei Röntgenenergien von 60 keV erreicht. Der Detektor soll bereits nächstes Jahr bei den ersten Experimenten am neuen Ionenspeicherring CRYRING des internationalen Forschungszentrums FAIR in Darmstadt eingesetzt werden.
Der „Giersch Excellence Award“ wird jedes Jahr an bis zu 24 Doktorandinnen und Doktoranden der Graduiertenschule HGS-HIRe verliehen; die Preisverleihung erfolgte im Frankfurter Institut für Advanced Studies (FIAS).
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Prof. Dr. Stefan Schippers, Atom- und Molekülphysik
I. Physikalisches Institut der Justus-Liebig-Universität Gießen
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