Rasterkraftmikroskop (AG Schlettwein)
![AFM AIST-NT (AG Schlettwein)](https://www.uni-giessen.de/de/fbz/zentren/lama/Platt/geraete/bilder_geraete/afm-foto01/@@images/image-400-1a214f4a91f654226d184380e62e4a96.jpeg)
AG Prof. Dr. Derck Schlettwein
Methodenplattform:
Standort:
Physik-Hörsaalgebäude, Heinrich-Buff-Ring 14, Raum 44
Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:
AIST-NT Smart 1000 SPM
Messungen (alle gängigen Modi, inkl. c-AFM, KPFM, MF-AFM) an Luft, auch unter Belichtung
Ansprechpartner:
Prof. Dr. Derck Schlettwein
Institut für Angewandte Physik
Physik-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 141
Tel. +49-641-99-33400